Измерване на рефлексивността ** на целната мембрана, високо точно измерване на дебелината на мембраната и оптичните константи! Безконтактни · Неунищожителни · Микроскопични

Времето за измерване е само 1 секунда!

Диференциалните фотометри за дебелина на мембраната (серия OPTM) използват микроспектрометрия за измерване на рефлексивността ** в малки зони, което позволява високоточен анализ на дебелината на мембраната / оптичната константа. Измерване на дебелината на покритието чрез неразрушителни и безконтактни методи, като например различни мембрани, чипове, оптични материали и многослойни мембрани. Възможност за измерване с висока скорост от 1 секунда/точка и софтуер, който улеснява анализа на оптичните константи дори за първи път

Характеристики на продукта:

• Главата интегрира функциите, необходими за измерване на дебелината на филма

• Висока точност** при измерване на рефлексивността чрез микроспектрометрия (дебелина на многослойна мембрана, оптична константа)

• Измерване на висока скорост в 1:1 секунда

• Широк диапазон оптични системи под дифференциална светлина (ултравиолетови *** близки инфрачервени)

• Механизми за сигурност на зоналните сензори

• Лесен съветник за анализ и възможност за анализ на оптични константи за начинаещи

• Независима измервателна глава, която отговаря на различни изисквания за персонализиране

• Поддръжка на различни персонализации

Измерителни елементи:

• ** Измерване на рефлексивността

• Многослойна мембранна анализа

• Анализ на оптичните константи (n: коефициент на пречупване, k: коэффициент на затъмнение на светлината)

Приложение:

• Полупроводник: автоматично регулиране на пробите от вафери, откриване на огъване на вафери

• Оптични компоненти: откриване на радиоактивност, огъване и др.

Спецификация на продукта：